一种用于蓝光芯片的紫外老化试验装置

本实用新型涉及芯片试验装置技术领域，公开了一种用于蓝光芯片的紫外老化试验装置，包括壳体、紫外灯以及黄色荧光胶块，所述壳体的底部为开口，所述紫外灯朝下地安装在所述壳体的内部的顶部，所述黄色荧光胶块设有四块，四块所述黄色荧光胶块分别设于所述壳体的外侧，所述黄色荧光胶块的顶部分别与所述壳体的侧部转动连接，所述黄色荧光胶块的底面低于所述壳体的底面，四块所述黄色荧光胶块拼接形成呈矩形的荧光胶框，所述荧光胶框围蔽所述壳体的底部。使用本实用新型进行试验时，蓝色芯片发出的蓝光通过黄色荧光胶后会转变为白光，从而防止蓝光芯片在测试时的蓝光对人员的身体健康造成影响。