芯片测试分选机

本实用新型公开了芯片测试分选机，包括蓝膜张紧机构和基板传输机构；包括第一驱动机构、摆臂、第一取料机构、测试台、变温调节组件、第二驱动机构和第二取料机构；测试台设于蓝膜张紧机构和基板传输机构之间，摆臂上设有第一取料机构，第一驱动机构用于驱使摆臂在测试台和蓝膜张紧机构之间往复摆动；变温调节组件设于测试台上；第二驱动机构用于驱使第二取料机构在测试台和基板传输机构之间往复移动。本芯片测试分选机采用摆臂配合第一取料机构将芯片取放至测试台，利用变温调节组件改变测试台和芯片的温度，随后对芯片进行功能测试即可根据测试结果将芯片进行分选。其中，摆臂的移动速度快，工作效率高，有利于提高芯片测试效率。