芯片测试探针座

本实用新型公开了芯片测试探针座，包括固定座、安装座、探针、弹片、调节螺栓、调节螺母和弹性件；固定座上设有装配腔，装配腔连通固定座的一端面；安装座包括依次连接的装配部、连接部和顶抵部，连接部和顶抵设于装配腔中；探针安装于装配部上；弹片的两端分别连接装配部与固定座；调节螺栓依次贯穿连接部和固定座的顶壁并与调节螺母配合连接；弹性件的两端分别抵触固定座和调节螺母。本芯片测试探针座利用弹片使得安装座上的探针在接触芯片时具有一定的缓冲空间，避免探针给芯片的压力过大导致芯片损坏。调节螺栓配合调节螺母可调节弹片的形变量以控制向下弹性力的大小，从而达到调节探针接触芯片时给予芯片的压力，实现探针接触压力可调。