一种集成电路抗干扰测试工装

本实用新型公开了一种集成电路抗干扰测试工装，包括PCB转接板、金属屏蔽罩、螺纹杆以及驱动电机；所述PCB转接板具有多个呈矩阵排布的芯片引脚插接座，所述芯片引脚插接座用于连接封装有集成电路的半导体芯片；所述金属屏蔽罩与所述螺纹杆螺纹配合，所述驱动电机通过驱动所述螺纹杆旋转，带动所述金属屏蔽罩靠近所述PCB转接板，以使所述金属屏蔽罩覆盖所述PCB转接板。本实用新型技术方案解决了测试效率低、数据复现性差的问题。