一种芯片外观测试机构

本实用新型公开了一种芯片外观测试机构，属于芯片测试技术领域，包括底板，所述底板上固定安装有控制箱，所述控制箱内部固定安装有第一控制器和第二控制器，所述第二控制器电性连接与所述第一控制器，所述底板上固定安装有输送装置，所述输送装置电性连接于所述第二控制器，所述底板上转动连接有第一抓取装置和第二抓取装置，所述第一抓取装置和第二抓取装置电性连接于所述第二控制器，所述控制箱上固定安装有第一支撑块和第二支撑块，所述第一摄像头和第二摄像头电性连接于所述第一控制器，所述控制箱上固定安装有检测平台，所述底板上放置有良品箱和劣品箱。本发明自动化程度高，避免了人为误差。