一种用于裸芯片测试的连接器

本实用新型提供一种用于裸芯片测试的连接器，包括基板和绝缘盖，基板表面包括至少一个插件区域，其中固定有间隔排布的多个金属夹；绝缘盖盖设于插件区域上方，且开设有多个插件孔，每个金属夹上方对应一列插件孔，一列插件孔包括至少一个插件孔，穿过位于同一列的任一插件孔均能够与其下方的金属夹实现电连通；基板设有多个电连接点，电连接点能够在基板放置于静电仿真器时与静电仿真器电连通。该连接器能够作为带有裸芯片的封装板与静电仿真器的连接中介，对于COB板，则可进一步通过搭配弹簧排针，在无需通过人工焊上排针的情况下来完成测试，达到节省人力成本与提高工作效率的目的，也可以减少因焊接排针手续造成裸芯片损坏的风险。