一种SPI Flash芯片测试仪

本实用新型属于测试领域，尤其是一种SPI Flash芯片测试仪，针对现有的在使用中虽然可以通过超声波发生器和超声波测厚探头对芯片的厚度进行检测，但是在需要对芯片的长度和宽度进行测量时，还需要额外的设备进行测量，较为不便问题，现提出如下方案，其包括机体、芯片主体、超声波发生器和用于对芯片主体进行测厚的超声波测厚探头，所述机体的一侧固定设置有固定板，通过测量机构可以对芯片主体的长度和宽度进行测量，通过第一移动机构和第二移动机构可以对超声波发生器和超声波测厚探头进行左右移动、前后移动，便于超声波测厚探头移动至芯片主体待测位置，通过稳定机构可以防止机体晃动，提供稳定性。