射频测试用子开关模块、开关箱和射频测试系统
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推荐专利
射频测试用子开关模块、开关箱和射频测试系统
申请号:
CN202421426198
申请日期:
2024-06-21
公开号:
CN222866821U
公开日期:
2025-05-13
类型:
实用新型专利
摘要
本实用新型提供一种射频测试用子开关模块、开关箱和射频测试系统,所述子开关模块包括:射频开关;转接板,所述转接板与所述射频开关连接,所述转接板还设置有与外部设备连接的第二连接器,所述转接板包括用于表示所述射频开关信息的标识单元。本实用新型大大提升了射频测试系统的自动化程度,不需要人为对每个射频开关分别进行配置。
技术关键词
射频测试系统
射频开关
开关模块
标识单元
机箱壳体
电阻电路
开关箱
转接板
控制板
存储芯片
主控芯片
外部设备
闪存芯片
跳帽
接口
管脚
线束
沪ICP备2023015588号