摘要
本实用新型属于闪烁体耦合技术领域,实施例涉及一种模组拼接及耦合结构。本实用新型通过采用特定模量的胶体,并通过对耦合结构进行设计改进,在芯片拼接缝处形成胶体强化部和连通部,从而改善芯片拼接缝处胶体脱落的现象,大幅提升了X射线探测器的成像效果和产品寿命。
技术关键词
耦合结构
模组
芯片
X射线探测器
拼接缝
耦合技术
常温固化
闪烁体
曲面
成像
寿命
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