一种芯片测试金手指

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试金手指，包括基座和接触弹片，基座的内部设置有腔体，腔体的内部固定有导电片，基座的侧壁还开设有与腔体相连通的矩形孔，矩形孔的内部贯穿设置有若干个与导电片电性连接的接触弹片，若干个接触弹片的外露端向上弯曲形成接触脚，矩形孔的左、右内壁均开设有卡接槽，矩形孔的外端口还插接有保护套，保护套的左、右外壁均固定有与卡接槽相配合安装的弹性卡件；本实用新型在金手指加工运输过程中能有效保护接触弹片，不易被外力损坏或者折弯。