一种芯片测试用连接装置

本实用新型涉及芯片测试的技术领域，具体为一种芯片测试用连接装置，包括电路板，所述电路板上设置有连接测试座，所述连接测试座内设置有测试槽，测试槽内放置有测试芯片，还包括顶起组件，所述顶起组件用于将位于测试槽内的测试芯片顶出，方便将测试芯片取出，所述顶起组件包括顶起架、四组滑杆、四组安装架、四组弹簧、四组连接板、顶柱和按压板，测试槽连通设置有凹槽，四组所述滑杆顶端均与顶起架底端连接，四组所述滑杆对称安装，四组所述安装架安装在凹槽底端，四组滑杆分别与四组安装架滑动连接。该芯片测试用连接装置，方便将测试芯片从连接测试座中取出，因此降低了测试时间，提高了测试效率置。