基于FPGA的通用闪存测试设备

本实用新型涉及通用闪存测试设备技术领域，具体公开了基于FPGA的通用闪存测试设备，包括测试板卡，所述测试板卡的上端面固定连接有测试座，所述测试座的上侧转动连接有上盖，所述测试座的上端面中部处开设有升降槽，所述升降槽的内侧滑动连接有升降测试台，所述升降槽的内部固定连接有多个弹簧探针，所述升降测试台包括座体，所述座体的内侧开设有多个测试孔，多个所述弹簧探针分别与多个测试孔孔位一一对应，所述座体的下端面四角处均开设有伸缩槽，所述伸缩槽的内部滑动套设有导杆。本实用新型中，测试完成后，升降测试台可以从升降槽内部升起，取放芯片时更加方便，便于芯片引脚充分与内部的弹簧探针接触，减少接触不良的情况发生。