一种数字发声芯片测试电路

本实用新型公开一种数字发声芯片测试电路，涉及数字发声技术领域，以解决现有技术中数字发声芯片进行电测试时电路结构复杂的问题。数字发声芯片测试电路包括：控制模块、驱动模块和测试模块；所述测试模块、所述驱动模块均与所述控制模块相连；所述驱动模块用于驱动数字发声芯片工作；所述测试模块用于对工作的数字发声芯片进行电测试，并将进行电测试得到的测试数据发送给所述控制模块；其中，所述驱动模块包括预设数量个驱动电路；每个所述驱动电路与所述数字发声芯片中的至少两个发声通道相连。