一种芯片凸点自检机构

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一种芯片凸点自检机构
申请号:CN202421576304
申请日期:2024-07-05
公开号:CN223065191U
公开日期:2025-07-04
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型涉及芯片自检设备技术领域,尤其涉及一种芯片凸点自检机构。其技术方案,包括:底座,所述底座的上表面固定设置有一组滑轨;滑动设置于滑轨上的检测台,所述检测台的上表面固定设置有用于对不同型号和尺寸芯片进行同时定位的定位组件;固定设置于底座上表面用于支撑的支撑架,所述支撑架的上端固定安装有第一气缸,所述第一气缸的输出端贯穿支撑架并延伸连接有支撑板;固定设置于支撑板底面用于对芯片凸点自检的;设置于支撑板一侧用于方便对芯片进行观察的显微镜。本实用新型能够同时对不同规格和尺寸的芯片进行定位,同时进行传送进行自检,从而提高芯片自检的效率。
技术关键词
自检机构 凸点 芯片 激光发射器 检测台 激光接收器 定位组件 载物台 显微镜 自检设备 导向块 安装槽 导杆 气缸 底座上表面 活动卡接 定位块 弹簧 字形结构
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