用于芯片的测试装置

本实用新型公开了一种用于芯片的测试装置，该测试装置包括：测试模块，测试模块用于安装芯片；电路板，电路板设于测试模块的内部，且电路板与芯片电连接；输入模块，输入模块与测试模块沿其长度方向的一端连接，且输入模块与电路板电连接；连接模块，连接模块与测试模块沿其宽度方向的相对两侧连接，且连接模块与电路板电连接；输出端口，输出端口设于测试模块背离输入模块的另一端，和/或输出端口设于测试模块沿其宽度方向的相对两侧，输出端口与电路板电连接。本实用新型公开的一种用于芯片的测试装置可以提高芯片测试的效率，减少芯片测试的成本。