一种车载传感器芯片可靠性测试设备

本实用新型公开一种车载传感器芯片可靠性测试设备，其包括芯片热循环测试机本体、显示屏、若干个控制钮和测试仓，所述芯片热循环测试机本体的左侧设置有储存箱，所述储存箱内部的两侧均设置有箱盖，所述储存箱的内部设置有储存机构；所述储存机构包括顶板、储存盒和隔板，所述隔板的表面与储存盒的内壁固定连接，所述储存盒的底部与顶板的顶部接触，解决了现有大部分对车载传感器芯片进行热循环测试的设备不具备对车载传感器芯片进行临时储存防护的结构，在对大量车载传感器芯片进行热循环测试时，需要不断辗转取放车载传感器芯片，消耗工作人员体力，影响对车载传感器芯片热循环可靠性测试效率的问题。