一种芯片测试装置

本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括输送带和支撑架，所述输送带的一侧安装有支撑架，所述支撑架的底端安装有电动推杆，所述电动推杆的输出端活动安装有滑动架，且滑动架与支撑架滑动连接，所述滑动架的内部滑动安装有下压块，所述下压块的顶端安装有弹簧，且弹簧与滑动架相连接，所述下压块的底端安装有旋转座，所述旋转座的内部活动安装有活动轴，所述活动轴的底端安装有旋转板，所述旋转板的底端安装有多组检测导针，所述输送带的底端安装有连接架。本实用新型不仅实现了便捷的联动对中摆正芯片和便捷的圆周转动调整适配触点位置，方便了对芯片触点进行弹性接触检测，而且提高了测试的灵活性。