一种应用于MOS器件的双脉冲测试电路

本实用新型提供了一种应用于MOS器件的双脉冲测试电路，包括：驱动电路、测试电路，驱动电路和测试电路设于同一测试电路板上，驱动电路的一端与第二被测MOS管Q5的栅极连接，驱动电路的另一端与外部信号发生器连接用于接收信号；第二被测MOS管Q5与电源VCC之间串联有第二被测MOS管Q4，第二被测MOS管Q4的源极与第二被测MOS管Q5的漏极连接，第二被测MOS管Q4与第二被测MOS管Q5设于同一被测电路板上；测试电路的一端电源VCC连接，测试电路的另一端接地，测试电路与第二被测MOS管Q5并联；在测试过程中，通过PCB与PCB板连接的方式，即测试电路板和被测电路板的连接方式，缩小了驱动信号与被测MOS管和被测电路间的回路，减小产生的干扰震荡。