一种应用于老化测试的探针测试座

本实用新型涉及芯片老化测试技术领域，公开了一种应用于老化测试的探针测试座，包括下压部、底座和设置在底座与下压部之间的芯片压爪，所述底座底部设有探针测试部，所述探针测试部包括一体设置在底座底部的基础探针台和通过第一弹簧连接在基础探针台上方的辅助限位框。本实用新型通过设置将承载芯片的辅助限位框通过弹簧连接在基础探针台上，可上下运动，可以在芯片被下压时，起到缓冲作用，从而保护探针头部，而芯片做落后才能与测试探针接触，保证芯片的坐落位置精度，提高芯片与探针接触的准确性。