一种芯片测试用定位机构

本实用新型涉及芯片测试定位技术领域，且公开了一种芯片测试用定位机构，包括测试板，测试板的上表面开设有空腔，测试板相邻的两侧分别贯穿有第一正反牙螺栓和第二正反牙螺栓，第一正反牙螺栓和第二正反牙螺栓错位分布，第一正反牙螺栓和第二正反牙螺栓均与测试板转动连接，空腔内安装有底板，底板的上表面开设有四个分别与第一正反牙螺栓和第二正反牙螺栓对应的滑槽；本实用新型通过第一正反牙螺栓和第二正反牙螺栓分别控制多根挡杆移动，进而通过将芯片放置在底板上，通过控制四根挡杆移动，对芯片的多侧进行阻挡定位并固定，并使芯片居中，方便对芯片进行定位固定检测，同时适应不同尺寸的芯片进行检测，方便使用。