一种可以改善DDR芯片信号阻抗变化的布局结构

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一种可以改善DDR芯片信号阻抗变化的布局结构
申请号:CN202421892695
申请日期:2024-08-06
公开号:CN223093947U
公开日期:2025-07-11
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种可以改善DDR芯片信号阻抗变化的布局结构,包括设置在电路板本体上的多个焊盘组,每个DDR焊盘组包括多个表贴焊盘,外侧的表贴焊盘的第一扇出孔位于DDR焊盘组外,内部的表贴焊盘的第二扇出孔位于DDR焊盘组内,且内部的表贴焊盘的第二扇出孔错位排布,使得第二扇出孔与相邻的第二扇出孔之间的中心间距不小于1.3mm。本实用新型通过改进DDR芯片的DDR焊盘组的打孔方式,拉大DDR芯片组的相邻的第一扇出孔和第二扇出孔的孔盘和孔盘之间的间距,间距变大后,使两孔之间的内层走线可以保持40Ω阻抗信号连接到DDR芯片上面,DDR走线信号质量最佳,还可以有效改善DDR芯片的加工难度。
技术关键词
布局结构 表贴焊盘 芯片 信号 错位 打孔方式 间距 电路板 焊盘组 阵列
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