一种可用于多规格芯片检测用的检测装置

本实用新型涉及芯片技术领域，具体为一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，主要包括工作台，底座，螺接在工作台底端的四角处，壳体，固定在工作台的顶端，安装组件，固定在工作台的顶部，用于放置芯片，所述安装组件包括治具，所述治具固定在工作台的顶部，所述治具的顶部滑动连接若干个第一定位块，调节组件，固定在安装组件的内腔，用于调节安装组件，所述调节组件包括滑动槽，所述滑动槽开设在治具的顶部，所述滑动槽内腔的底端固定有第一磁铁。本申请的一种可用于多规格芯片检测用的检测装置，该治具通过磁吸原理实现定位块位置的调节，具有灵活调整定位块的技术特点。