一种多端口微波测试工装

本实用新型涉及一种多端口微波测试工装，包括支撑座，在所述支撑座上通过第一升降柱支撑有连续供料转盘，在所述支撑座上还通过第二升降机构支撑有悬置在所述连续供料转盘上方的测试仪模组，其中，所述第二升降机构是可调节所述测试仪模组的工作高度的；在所述连续供料转盘的顶面内环向间隔嵌装有可调节地对多个微波芯片进行定位夹持的检测夹持组件，所述测试仪模组的多个单项测试仪按照与被所述检测夹持组件所环向间隔定位的检测芯片同间距布设的方式安装在所述第二升降机构所限定的工作面上。本实用新型能够连续对微波芯片进行多种参数测试而提升综合检测效果的同时通过循环连续输送而减少人工切换测试仪器的人力成本和时间成本。