一种PM芯片检测电路及检测系统

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推荐专利
一种PM芯片检测电路及检测系统
申请号:CN202421965661
申请日期:2024-08-14
公开号:CN223244752U
公开日期:2025-08-19
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了芯片测试技术领域的一种PM芯片检测电路及检测系统,包括PM芯片及PM芯片的电极1、电极2、电极3和电极4,还包括第一处理电路和第二处理电路;开关电路,用于控制供电电压通过第一处理电路或者第二处理电路;单片机,用于控制开关电路,并根据第一处理电路或者第二处理电路的对应采样电压计算电极1和电极4之间的阻值、电极2和电极3之间的阻值或者电极1和电极3之间的阻值;能够进行短路、断路、阻值性能自动批量检测,提高了检测效率、减少了人工误差;电路低成本、电路原理巧妙,功能可靠,操作简单智能。
技术关键词
芯片检测电路 场效应管 电极 运算放大器 芯片检测系统 电阻 控制开关电路 采样器 单片机 芯片测试技术 电压 检测夹具 电容 多工位 低成本 批量 栅极
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