一种用于芯片调试的电路、系统和计算机

本实用新型涉及芯片调试技术领域，公开了一种用于芯片调试的电路、系统和计算机，包括：开关模块、待调试芯片、平台路径控制器和通用接口；所述开关模块分别与所述待调试芯片、所述平台路径控制器以及所述通用接口相连接；所述待调试芯片还与所述平台路径控制器以及所述通用接口相连接。将开关模块分别与待调试芯片、平台路径控制器以及通用接口相连接，可以通过开关模块改变待调试芯片、平台路径控制器以及通用接口之间的连接，从而能够实现在不拆机的情况下直接通过通用接口对待调试芯片进行调试。