一种应用于芯片检测的多光谱的成像装置

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一种应用于芯片检测的多光谱的成像装置
申请号:CN202422381828
申请日期:2024-09-29
公开号:CN223217366U
公开日期:2025-08-12
类型:实用新型专利
摘要
一种应用于芯片检测的可调节的多光谱成像装置,其特征在于,包括彩色相机,所述的彩色相机连接大景深远心镜头,所述的大景深远心镜头与多光谱可调的光源装置连接,所述的光源装置包括用于发射RBW三光谱的同轴光源,所述的同轴光源下方设有第一RW双光谱环形光源,所述的第一RW双光谱环形光源斜侧方设有第二RW双光谱环形光源,所述的第二RW双光谱环形光源斜侧方设有R光谱环形光源,多光谱可调节并能随意组合照射的技术手段能兼容不同类型的产品,应对更为复杂的检测场景,从颜色就能区分芯片,焊线,银浆,绝缘胶等不同区域,提升成像效果,为算法开发提供更多可能。
技术关键词
光谱成像装置 环形光源 发光单元 光源装置 同轴光源 安装面 芯片 红色 镜头 多光谱 相机 光谱可调 波长 蓝色 焊线 连线 台阶 颜色
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