一种条形芯片测试系统

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是一种条形芯片测试系统，其包括底板，底板上方设置有芯片测试仪，底板上转动安装有圆盘，圆盘上固定安装有若干个测试盒，测试盒上对称安装有两个移动架，移动架一侧固定安装有若干个伸缩杆，伸缩杆一端固定安装有夹具，伸缩杆表面套设有弹簧，底板顶部开设有第一滑槽。本实用新型通过第一电机与双向螺纹杆相互配合，带动两个夹具相互靠近，每一个夹具都可以向内挤压弹簧与伸缩杆进行收缩，使得每一个夹具都可以根据条形芯片尺寸大小进行位置的调节以与条形芯片相抵，避免在测试时出现晃动或者出现滑落的情况，造成条形芯片与芯片测试仪之间接触不良。