通用分立器件MOS和IGBT极限频率的测试电路

本实用新型公开了一种通用分立器件MOS和IGBT极限频率的测试电路，其特征在于，包括：检测单元，检测单元包括：PWM发射芯片、测试芯片、电阻R1、电阻RC、电阻RG2、二极管DC、二极管DG、三级达林顿管，测试芯片的VIN+引脚接+5V、VIN‑引脚接PWM信号，VIN‑引脚通过电阻R1接+5V，VE引脚通过并联的电阻RG2和二极管DG外设输出端G，VE引脚外设输出端E，DESAT引脚接电阻RC，电阻RC接三级达灵顿管和二极管DC后外设输出端C。适用于通用分立器件MOS和IGBT频率探测，通过改变PWM的大小就可以改变频率大小，进而实现通用分立器件MOS和IGBT频率探测且连续可调。