一种用于高Q值芯片电容测试夹具

一种用于高Q值芯片电容测试夹具，属于电容测试领域。包括：支架、运动装置、产品测试装置、信号传输装置。所述支架由底座、支撑脚组成；所述运动装置包括肘夹、导杆、弹性定位波珠、压板，肘夹位于夹具的上端，导杆贯穿压板、顶部屏蔽板至底部支架上；弹性定位波珠位于肘夹的下方，压板与肘夹通过弹性定位波珠珠联动；所述产品测试装置包括微分头、上部SMA三通转接头、上部镀金黄铜板、上部探针、下部探针、下部镀金黄铜板、下部SMA三通转接头；所述信号传输装置包括测试线缆、测试接头、下部SMA三通转接头、屏蔽板。解决了现有芯片电容测试夹具不能测试Q值在10000以上的高Q值芯片电容的问题。广泛应用于芯片电容测试技术领域。