一种三端LDO芯片老化测试装置

本实用新型提供了一种三端LDO芯片老化测试装置，属于芯片测试技术领域。该三端LDO芯片老化测试装置包括：用于输出老化模拟信号的老化测试模块，老化测试模块包括依次串联的待测三端LDO芯片、电压跟随器及测试采样电阻，待测三端LDO芯片的输入端接入输入电压，待测三端LDO芯片的输出端与电压跟随器的正向输入端相连，电压跟随器的负向输入端与电压跟随器的输出端相连，电压跟随器的输出端与测试采样电阻的一端相连，测试采样电阻的另一端输出老化模拟信号。本实用新型的三端LDO芯片老化测试装置对不同参数的三端LDO芯片进行老化测试时，能够保证采集的输出电压稳定，实现老化测试条件的统一，保证老化测试结果的准确性。