一种基于半导体芯片封装测试的固定装置

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正文
推荐专利
一种基于半导体芯片封装测试的固定装置
申请号:CN202422699553
申请日期:2024-11-06
公开号:CN223589351U
公开日期:2025-11-25
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型涉及半导体芯片封装测试技术领域,具体为一种基于半导体芯片封装测试的固定装置,包括固定台和固定装置,所述固定台顶端安装有所述固定装置,所述固定装置包括凹槽、双向螺杆、第一电机、移动座、矩形块、矩形槽、螺纹杆、第二电机、第一滑块、第二滑块、第三电机、连接柱、第一固定块、第二固定块、力传感器和柔性块,双向螺杆的旋转使得两个移动座沿凹槽向半导体芯片方向移动,直到矩形块接近芯片的两侧,柔性块首先接触到半导体芯片的两端侧壁,第一固定块和第二固定块上的力传感器开始监测夹持力,第一电机继续旋转,逐渐增加夹持力,直到力传感器检测到的夹持力达到预设的安全值。
技术关键词
固定装置 双向螺杆 力传感器 移动座 矩形 半导体芯片 伸缩帘 螺纹杆 滑块 柔性 凹槽 同步电机 顶端 安装板 防护壳 伺服电机
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