转接板和测试装置

本申请涉及芯片领域，具体公开了一种转接板和测试装置，转接板连接于主板与测试座之间，所述转接板包括连接板和测试芯片，所述连接板包括安装区域，所述测试芯片设置在所述安装区域内，且所述测试芯片贯穿所述连接板；所述测试芯片的一侧相对于所述连接板凸出一预设高度；所述测试芯片上设置有测试区域，所述测试区域内设置有多个测试颗粒，多个所述测试颗粒的两端分别暴露于所述测试芯片靠近所述测试座的一侧，以及所述测试芯片靠近所述主板的一侧。本申请通过以上方式，提高测试芯片在不同规格主板上测试的便利性和可靠性，降低主板损坏风险。