一种射频芯片组件调试测试装置

本实用新型公开了一种射频芯片组件调试测试装置，涉及射频芯片调式测试技术领域。本实用新型包括调试测试座，调试测试座的顶部开设有射频芯片放置槽，且射频芯片放置槽并排等间距开设有三个，射频芯片放置槽前侧的调试测试座上固定连接有接口。本实用新型通过将三个待调试测试的射频芯片分别放置在三个射频芯片放置槽中，并分别通过三个压杆带动芯片压紧板对三个射频芯片分别压紧固定，能够同时实现对三个射频芯片的调式测试，效率更高，通过转动螺杆带动向下移动，能够通过弹簧带动三根压杆一同向下移动，并通过三个芯片压紧板对三个射频芯片进行压紧，无需人员逐一手动对三个射频芯片进行压紧，操作更加的便捷。