一种用于半导体芯片的测试探针清洗装置

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正文
推荐专利
一种用于半导体芯片的测试探针清洗装置
申请号:CN202422914278
申请日期:2024-11-28
公开号:CN223505769U
公开日期:2025-11-04
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种用于半导体芯片的测试探针清洗装置,包括超声波清洗机和支架,支架设置在超声波清洗机上方,支架上设置有多个用于插接探针的转动套杆,转动套杆上设置有自动对探针夹持固定的夹具,支架上设置有用于带动多个转动套杆不断转入超声波清洗机内部的驱动组件。本实用新型中,本实用新型的有益效果为:驱动组件带动多组转动套杆转动,当转动套杆转动到最上方时,夹具会自动松开,此时可以进行更换探针,当转动套杆转动最上方时,夹具又会自动对探针进行夹持固定,这样夹具无需人工操控,随着转动套杆转动会自动实现对探针夹住或者松开,人工只需要更换最上方转动套杆内部的探针即可。
技术关键词
超声波清洗机 半导体芯片 测试探针 驱动组件 夹持块 支架 联动杆 夹具 引导杆 套壳 支撑块 转动轴 电机 阵列 输出端 弹簧
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