一种半导体IC引脚导通性分析仪

本实用新型公开一种半导体IC引脚导通性分析仪，包括待测芯片，待测芯片的每个引脚分别依次串接一偏置电阻、选通开关、指示灯单元和双通道微动按钮后连接到切换单元和电源单元；选通开关用于导通或者关闭该引脚连接至电源单元的通路；切换单元用于切换电源单元，从而实现正向开短路测试或者反向开短路测试；双通道微动按钮未被按下的状态下，待测芯片的每个引脚依次通过偏置电阻、选通开关、指示灯单元、双通道微动按钮的常闭触点和切换单元接通到电源单元的电池的一极，双通道微动按钮的常开触点经过切换单元连接至电池的另一极。本申请的分析仪操作简单使用方便，大大提高了测试效率；同时原理简单，便于制作和维修。