电容检测方法、芯片及电子设备

本申请涉及电容检测技术领域，公开了一种电容检测方法、芯片及电子设备。方法包括：当n为大于等于2的正整数时，基于待检测电容的第n次电容采样数据对应的温度补偿数据和第n‑1次电容采样数据对应的基线值，确定第n次电容采样数据对应的电容变化量；当n为1时，第n次电容采样数据对应的电容变化量为0；基于第n次电容采样数据对应的电容变化量和接近阈值，确定人体相对电子设备的状态；基于前n次电容采样数据的温度补偿数据确定第n次电容采样数据对应的趋势变化量；基于电容变化量与接近阈值的大小关系、第n次电容采样数据对应的趋势变化量确定第n次电容采样数据对应的基线值。基于上述方案，能够提升人体相对电子设备判断的准确度。