利用泄漏测试的非易失性存储器

一种非易失性存储器被配置为执行多个泄漏测试，该多个泄漏测试在一组非易失性存储器单元(例如，非易失性存储器单元的块)已接收到编程之后被集成到该组非易失性存储器单元的预擦除过程中。推断电路被配置为使用泄漏测试的结果、利用预训练模型来预测该组非易失性存储器单元是否将失效。