用于测量AI模型的性能的装置和方法以及用于训练AI模型的装置

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用于测量AI模型的性能的装置和方法以及用于训练AI模型的装置
申请号:CN202510007343
申请日期:2025-01-03
公开号:CN120256887A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
公开了用于测量AI模型的性能的装置和方法以及用于训练AI模型的装置。用于测量人工智能(AI)模型的性能的装置包括:一个或多个处理器和存储器;并且所述存储器存储指令,所述指令被配置为使得所述一个或多个处理器执行处理,所述处理包括:基于各个类别重要性来确定各个类别的扰动,并将基于各个扰动确定的噪声添加到各个类别的各个代表性向量;并且从由AI模型使用包括添加了噪声的代表性向量的权重矩阵输出的推断结果生成AI模型的推断不确定性。
技术关键词
噪声 线性分类器 存储器存储指令 训练人工智能模型 处理器 多媒体 半导体产品 数据 图像 偏差 矩阵 编码器 元素
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