芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质

本发明提出一种芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质。芯片测试方法包括以下步骤：在第一测试模式和/或第二测试模式下，对待测芯片执行电气连接性测试；读取待测芯片的唯一标识码，并判断唯一标识码是否与上一执行完测试的芯片的唯一标识码一致；若一致，则待测芯片发生叠料或卡料问题，将待测芯片归为第一芯片集合；否则，待测芯片执行第一测试模式和/或第二测试模式中的其他若干测试项；其他若干测试项包括电流测试、功能测试。通过本方法可以实现检查叠料或卡料问题，并且支持已经测试通过的芯片进行再次复测。