模拟IP关联数字电路测试方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种模拟IP关联数字电路测试方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取待测芯片设计中所有模拟IP的接口{A1,A2,..,Am,...,AM}；步骤S2、基于预设的检查项列表检查每一Am，若Am属于所述预设的检查项列表中的任意一项，则将Am从{A1,A2,..,Am,...,AM}中删除，生成待处理模拟IP接口集合{B1,B2,...,Bn,..,BN}；步骤S3、为每一Bn插入对应的旁路电路；步骤S4、基于插入旁路电路后的待测芯片设计在测试模式下对模拟IP关联数字电路进行测试。本发明提高了模拟IP关联数字电路测试的覆盖率和准确性。