数据完整性的校验方法、芯片以及电子设备

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数据完整性的校验方法、芯片以及电子设备
申请号:CN202510015486
申请日期:2025-01-03
公开号:CN119830359A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种数据完整性的校验方法、芯片以及电子设备,涉及信息技术领域。该方法应用于芯片,该芯片包括处理器、存储控制器以及存储设备,该方法包括:通过处理器响应于针对只读分区的读操作,下发对应的数据请求至存储控制器,通过存储控制器将数据请求下发至存储设备,通过存储设备响应于数据请求反馈目标数据至存储控制器,通过存储控制器对目标数据进行哈希计算,获得目标数据对应的实际哈希值,通过存储控制器或者处理器基于实际哈希值对目标数据进行完整性校验,获得目标数据的完整性校验结果。本申请针对只读分区的完整性校验,通过将哈希值的计算固化在存储控制器中的方式,节省软件开销时间,可以提升只读分区的读效率。
技术关键词
存储控制器 数据 存储设备 处理器 软件 校验方法 芯片 分区 文件系统层 电子设备 参数
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