一种压力测试方法、装置、设备及存储介质

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一种压力测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510024660
申请日期:2025-01-07
公开号:CN119961068B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种压力测试方法、装置、设备及存储介质,涉及存储技术领域,旨在相关技术中针对RAID卡芯片的压力测试,难以有效控制TLP包的数量,无法有效评估PCIe数据传输的压力的问题。该方法包括:接收主机的中央处理器发送的测试任务请求;响应于测试任务请求,暂停对中央处理器发送的目标事务层数据包的响应,以将目标事务层数据包的数量累计到目标数量;在目标事务层数据包的数量累计到目标数量时,对目标数量的目标事务层数据包进行响应,以进行压力测试;在磁盘阵列卡芯片对目标事务层数据包的响应和中央处理器对目标事务层数据包的预期响应一致的情况下,确定磁盘阵列卡芯片通过压力测试。
技术关键词
中央处理器 压力测试方法 磁盘阵列卡 接收主机 核心 芯片 压力测试装置 RAID卡 电子设备 模式 存储技术 模块 数据 可读存储介质 开关 存储器 程序
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