经由基于地面真值测量的X射线建模对样本的结构性质进行非破坏性估计

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推荐专利
经由基于地面真值测量的X射线建模对样本的结构性质进行非破坏性估计
申请号:CN202510029424
申请日期:2025-01-08
公开号:CN120334272A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本文公开了一种用于样本的非破坏性表征的系统。所述系统包括:电子束(e束)源,所述e束源用于将e束以一个或多个e束着陆能量投射到样本上;X射线检测器,所述X射线检测器用于感测从样本发射的X射线,从而获得测量数据;以及处理电路系统。所述处理电路系统被配置为:(i)从测量数据中提取由向量指定的关键特征;以及(ii)基于和地面真值(GT)参考样本的关键特征的向量集来估计表征样本的一个或多个结构参数的值中的每一者是对由于用e束以一个或多个着陆能量中的每一者撞击参考样本而从参考样本发射X射线的测量的结果。
技术关键词
X射线检测器 样本 电路系统 图案化晶片 参数 强度 矩阵 电子束 数据 回归算法 地面 意图 曲线 多项式 分类器 偏差 阶段 密度
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