用于磁瓦表面精确缺陷检测的方法

AITNT
正文
推荐专利
用于磁瓦表面精确缺陷检测的方法
申请号:CN202510029456
申请日期:2025-01-08
公开号:CN119832333A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及人工智能技术应用领域,尤其涉及一种用于磁瓦表面精确缺陷检测的方法,所述方法包括以下步骤:获取磁瓦表面图像;将所述磁瓦表面图像输入自适应旋转注意力网络以进行精确缺陷检测,所述自适应旋转注意力网络包括自适应旋转卷积模块、旋转区域注意模块;通过所述自适应旋转注意力网络输出所述磁瓦表面图像对应的磁瓦表面精确缺陷检测结果。本发明提出的网络通过自适应旋转卷积模块、旋转区域注意模块分别对磁瓦表面的随机缺陷和小缺陷进行检测,从而提高网络整体对磁瓦表面缺陷检测的性能,提高磁瓦生产检测过程的工作效率。
技术关键词
磁瓦表面 卷积模块 多视角特征 图像 头部特征 网络模块 关键字 输出特征 表面缺陷检测 人工智能技术 注意力机制 条目 定义 参数
系统为您推荐了相关专利信息
1
基于图像识别技术的模具缺陷检测方法及系统
分型面 顶出机构 图像识别技术 缺陷检测方法 轮廓数据
2
一种显示设备自动检测与色彩校准一体化装置及方法
画面 一体化装置 校准 色彩 控制显示设备
3
一种适用于沙漠区域道路的裂缝检测方法及系统
裂缝检测方法 像素点 Gabor滤波器 裂缝检测系统 纹理
4
一种基于映射空间转换角度改良的水印攻击方法
剪切波 拉普拉斯金字塔 笛卡尔坐标系 输入结构 数字水印技术
5
一种模拟雾天退化机制的低照度图像增强方法
图像增强方法 退化机制 雾霾图像 照度 亮度
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号