一种存储测试装置及测试方法

本发明提供了一种存储测试装置及测试方法，包括：处理器，处理器通过多个通道与待测机电性连接，温度控制模块用于控制存储测试装置的放置环境温度；以及工作链控制模块，用于配置并调用待测机的工作链，其中工作链至少包括待测机的启动步骤、待测机的读写步骤和待测机的掉电处理步骤，以及待测机的工作状态调整步骤；功耗计算模块，电性连接于多个待测机，在工作链的每个节点记录对主控制器的供电电流，作为第一供电电流，并记录对闪存芯片的供电电流，作为第二供电电流，并根据第一供电电流和第二供电电流，以及对待测机的供电电压，获取待测机在工作链各节点的功耗数据。本发明能够准确高效地评估存储设备的性能。