一种多层堆叠芯片的测试方法及存储介质

本申请公开了一种多层堆叠芯片的测试方法及存储介质，本申请提供的测试方法应用于对多层堆叠芯片中的每一层芯片的性能进行测试，其中，测试方法通过第一数据传输通道传输第一数据先将第n层芯片激活，再通过第二数据传输通道传输第二数据对激活的芯片性能进行测试，避免现有技术中无法对多层堆叠芯片的每一层芯片进行单独控制及测试，降低对多层堆叠芯片的测试效率的情况发生。本申请的测试方法能单独对多层堆叠芯片中的每一层芯片的性能进行测试，提高对多层堆叠芯片的测试效率，提升用户对本申请提供的测试方法的使用体验。