接口性能测试方法、装置及电子设备

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接口性能测试方法、装置及电子设备
申请号:CN202510076840
申请日期:2025-01-17
公开号:CN120011190A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种接口性能测试方法、装置及电子设备,涉及金融技术领域,包括:收集接口的压测数据,对压测数据进行预处理,确定目标数据;提取目标数据中多个特征数据,基于目标数据和多个特征数据进行评分,确定至少一个维度的得分数据;多个特征数据包括用于表征响应时间出现异常的第一数据、表征接口并发数出现异常的第二数据和基于TPS确定的测试数据;将多个特征数据和至少一个维度的得分数据输入训练好的机器学习模型中,得到性能预测等级和置信度;基于性能预测等级和置信度确定性能测试结果,这样,通过结合多个性能指标进行综合分析,进行更全面的性能评估,帮助识别不同负载条件下的性能变化和趋势,提高性能评估的准确性。
技术关键词
接口性能测试方法 机器学习模型 数据 时间段 计算机执行指令 性能测试装置 电子设备 特征提取模块 处理器通信 存储器 周期性 金融 时序 逻辑 样本 数值 终端
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