存储设备性能测试方法、装置、设备、介质及产品

本发明实施例提供了一种存储设备性能测试方法、装置、设备、介质及产品，包括：获取与存储设备性能对应的特征参数；确定特征参数与存储设备的IOPS的相关度；基于相关度和预设SISSO规则对不同特征参数进行预设维度组合处理，得到目标特征参数组合；通过目标特征参数组合对预设神经网络模型进行训练，得到目标神经网络模型；通过目标神经网络模型对当前状态下服务器中的存储设备性能进行预测，输出存储设备性能预测值。本发明通过利用神经网络模型，以及SISSO特征参数筛选的方法，得到影响RAID卡芯片性能的关键特征参数因子，进而可以进一步测试RAID卡芯片的性能，最大程度地使RAID卡芯片的性能得到优化，进一步的降低人力成本。