一种基于微指令的同步触发方法、系统、终端及存储介质

本申请涉及一种基于微指令的同步触发方法、系统、终端及存储介质，涉及芯片测试技术领域，其方法包括：在待测芯片组内各个待测芯片的寄存器内设置触发指令，触发指令用于调节待测芯片的引脚电压；向待测芯片组发送测试指令，测试指令携带有微指令，微指令与触发指令关联；在检测到待测芯片组内各个待测芯片的引脚电压均为预设电压的情况下，向待测芯片组发送同步测试信号；监测待测芯片组的引脚电压变化情况；根据引脚电压变化情况，得到待测芯片组的测试结果。本申请具有提高芯片测试同步性且减小测试指令内存的效果。