一种LPDDR芯片的EMI值测试方法、系统、装置及存储介质

本发明公开了一种LPDDR芯片的EMI值测试方法、系统、装置及存储介质，方法包括：获取LPDDR芯片的第一存储容量；获取LPDDR芯片的第二存储容量；将第一存储容量和第二存储容量分别与预设存储容量进行比较得到第一比较结果；根据第一比较结果、第一存储表和第二存储表获取第一EMI值和第二EMI值；根据第一EMI值和第二EMI值确定LPDDR芯片EMI值。通过全面且有针对性地检测整个LPDDR芯片中两个Rank的存储容量，并根据存储容量获取相应的第一EMI值和第二EMI值，从而准确测试LPDDR芯片的EMI值，进而准确初始化LPDDR芯片，提升LPDDR芯片的稳定性。